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美國phantech 分辨率測試卡

  • 產品型號:USAF 1951
  • 更新時間:2026-03-05

簡要描述:光學成像系統的分辨率指該系統能否分開兩個靠近的點或物體細節的能力,通常以每毫米可以識別的線對數(lp/mm)來表示光學成像系統分辨率的大小。
美國phantech 分辨率測試卡

產品詳情
品牌美國Phantech產地進口

USAF 1951分辨率測試卡,USAF 1951發光線對卡,熒光線對卡,美國phantech 分辨率測試卡詳細介紹:

光學成像系統的分辨率指該系統能否分開兩個靠近的點或物體細節的能力,通常以每毫米可以識別的線對數(lp/mm)來表示光學成像系統分辨率的大小。線對由一條黑線和一條白線組成,光學成像系統能分辨的每毫米線對數越多,分辨能力越好,分辨率越大。如圖1所示為光學成像系統zui 大分辨率示意圖,上方線對的線寬和線距較小,成像系統無法分辨;下方線對的線寬和線距有所增加,成像系統正好分辨,該線對對應的每毫米線對數即為成像系統的zui 大分辨率。
美國phantech 分辨率測試卡
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美國phantech 分辨率測試卡
分辨率: 1-57(LP/mm)


Phantech現在提供熒光和發光 USAF 1951 線對分辨率模型,用于熒光顯微鏡、熒光引導手術和體內光學成像系統!我們可以容納從第 -2 組元素 1 到第 7 組元素 6 的線對(與 2.19 微米線對一樣好;每毫米 228 個線對)。我們的熒光材料涵蓋可見光譜和 NIR。如果你想知道更多的信息,請咨詢我們!

美國phantech 分辨率測試卡

Phantech's Fluorescent Materials

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