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QRM QRM-MicroBar測試卡，QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡 技術參數： 內含兩個3mm×3mm硅質芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點狀圖樣，度規(guī)格為：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.
更新時間：2026-03-25
JIMA RT RC-04分辨率測試卡,RT RC-04測試卡詳細介紹： JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質量。
更新時間：2026-03-12
德國QUART公司高分辨測試卡（X射線檢測用線對卡）、二度星卡（2度星卡，焦斑卡）是醫(yī)院、疾控中心、第三方檢測單位用來檢測 X射線機等透視成像設備的X射線的分辨率的裝置。 Type 81高分辨測試卡
更新時間：2026-03-12
JIMA RT RC-05分辨率測試卡 測試卡封裝在一個防護盒中 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm 芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm 圖案布局：T型 （3-10μm） I 型 （15-50μm）
更新時間：2026-03-12
JIMA RT RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產的測試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對應于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。不同距離的線束應用于硅載體
更新時間：2026-03-09
光學成像系統(tǒng)的分辨率指該系統(tǒng)能否分開兩個靠近的點或物體細節(jié)的能力，通常以每毫米可以識別的線對數（lp/mm）來表示光學成像系統(tǒng)分辨率的大小。 美國phantech 分辨率測試卡
更新時間：2026-03-05
WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡每個線對組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊，每組線對卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。
更新時間：2026-04-14
RC-02B分辨率測試卡X射線分辨率測試卡致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質量。
更新時間：2025-07-02
RT CT-01 JIMA分辨率卡致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質量。
更新時間：2025-06-30
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