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  • RT RC-04分辨率測試卡
    RT RC-04分辨率測試卡

    RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦 X 射線系統的光刻生產的測試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對應于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。

    更新時間：2025-06-30
  • RT RC-05B分辨率測試卡
    RT RC-05B分辨率測試卡

    分辨率測試卡是一款采用半導體光刻技術制作的微型測試卡。它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。

    更新時間：2026-04-16
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