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產(chǎn)品分類(lèi)產(chǎn)品中心/ products
QRM QRM-MicroBar測(cè)試卡，QRM-MicroBar測(cè)試模體,Micro-CT高分辨率測(cè)試卡 技術(shù)參數(shù)： 內(nèi)含兩個(gè)3mm×3mm硅質(zhì)芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點(diǎn)狀圖樣，度規(guī)格為：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.
更新時(shí)間：2026-03-25
JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡,RT RC-04測(cè)試卡詳細(xì)介紹： JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
更新時(shí)間：2026-03-12
德國(guó)QUART公司高分辨測(cè)試卡（X射線檢測(cè)用線對(duì)卡）、二度星卡（2度星卡，焦斑卡）是醫(yī)院、疾控中心、第三方檢測(cè)單位用來(lái)檢測(cè) X射線機(jī)等透視成像設(shè)備的X射線的分辨率的裝置。 Type 81高分辨測(cè)試卡
更新時(shí)間：2026-03-12
JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm 芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm 圖案布局：T型 （3-10μm） I 型 （15-50μm）
更新時(shí)間：2026-03-12
JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對(duì)應(yīng)于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。不同距離的線束應(yīng)用于硅載體
更新時(shí)間：2026-03-09
,JIMA RT RC-05B分辨率測(cè)試卡IMA RT RC-05B是一款采用最新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡
更新時(shí)間：2026-04-16
光學(xué)成像系統(tǒng)的分辨率指該系統(tǒng)能否分開(kāi)兩個(gè)靠近的點(diǎn)或物體細(xì)節(jié)的能力，通常以每毫米可以識(shí)別的線對(duì)數(shù)（lp/mm）來(lái)表示光學(xué)成像系統(tǒng)分辨率的大小。 美國(guó)phantech 分辨率測(cè)試卡
更新時(shí)間：2026-03-05
WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡每個(gè)線對(duì)組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開(kāi)），兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準(zhǔn)塊，每組線對(duì)卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。
更新時(shí)間：2026-04-14
RC-02B分辨率測(cè)試卡X射線分辨率測(cè)試卡致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
更新時(shí)間：2025-07-02
RT CT-01 JIMA分辨率卡致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
更新時(shí)間：2025-06-30
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